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[CTIMES??安驰] 打造更高整合ATE方案 解决IC设计当务之急
 

【CTIMES/SmartAuto 王岫晨 报导】   2020年06月30日 星期二

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自动测试设备(ATE)是指用於检测电子元件功能完整性的相关装置仪器设备。这些测试装置透过讯号的产生与撷取,并捕捉元件的回应来检测元件的品质与特性是否良好。在半导体元件的生产过程中,ATE测试通常为晶片制造最後的一道关键流程,用於确保晶片的品质良好。

安驰科技ADI产品线应用工程经理高富华
安驰科技ADI产品线应用工程经理高富华

安驰科技ADI产品线应用工程经理高富华指出,对於需要高性能、高性价比的IC自动测试应用,ADI可以提供更高度整合的引脚电子元件(PE)、元件电源(DPS)和叁数测量单元(PMU)等。这些特定针对ATE应用的产品,以及ADI标准方案的各种组合(包括MEMS开关、高性能转换器和RF收发器等)都,能够在负载板中提供满足最新测试要求的各种自动测试解决方案。

高富华说,以目前ADI主要的市场,可分为讯号SOC的应用(包含MCU的测试),以及RF测试量测等。ADI提供了AD936X系列射频收发器,这是针对一系列完整的无线电所设计的单晶片解决方案,整合多种功能包括一个射频前端、混合信号基频、频率合成器、模数转换器和直接变频接收器等,工作频率范围覆盖可从70MHz到6GHz。可以说在RF晶片测试中,ADI已经解决了最困难的射频前端挑战。後端只要用FPGA来进行资料的撷取与分析,即可实现RF测试。

对於ATE结合AI的议题,高富华认为,关键在於找出IC测试领域中,能真正发现问题,且测项也最少的叁数,这就必须透过数据的整合与分析,若能与AI进行结合,就可以清楚知道哪个测项在量产过程中,可以用最快速与最少的测项,来得到最经济的测试成效。这就必须透过测试系统与後台云端资料来进行结合。

事实上,ATE一般是针对电信讯号来进行量测,而对於智能化工厂来说,更需要对於压力、机械特性与温度、震动等要求,都会影响到测试的品质与结果。以ADI目前所提供的CbM解决方案,正是用於智能工厂中的各种感测需求所打造,来提供更好的测试品质。

關鍵字: 安驰科技 
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