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PXI系统有效解决复杂物联网测试挑战
 

【CTIMES/SmartAuto 王岫晨 报导】   2020年02月17日 星期一

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从半导体、电子系统到工业4.0核心所在的智慧型机台,物联网装置与工业物联网的系统复杂度正与日俱增。物联网的商业价值,源自连线系统所产生的大量数据资料。这些数据资料通常来自於大量布建於环境中的感测元件,在收集了现场数据资料之後,通常先透过感测端点的微控制器进行资料的预处理,再将经过第一手处理後的资讯上传到云端系统中。

在物联网产品链中,关键作业往往在於测试,然而复杂的物联网装置使得测试过程更加复杂。
在物联网产品链中,关键作业往往在於测试,然而复杂的物联网装置使得测试过程更加复杂。

国家仪器商务与科技研究员Mike Santori说,在物联网(特别是工业环境)的产品链中,关键作业往往在於测试,然而复杂的物联网装置经常使得测试过程更加复杂。尽管每个感测端点动辄能够抓取上千笔的数据资料,然而处理这些资料却十分困难,特别是如果这些资讯是要应用於测试上。因为有许多不同的资料格式与来源,例如包含时间与频率的原始类比与数位波形,或叁数量测结果等。进行这类资讯收集作业时,取样速率与资料量通常会远高於从消费性装置或工业装置收集的资料。让情况更棘手的是,用於测试的资料一般都是独立储存,且标准化程度极低。因此对於企业来说,这类资料是看不见的资料,非常容易在产品生命周期的不同阶段错失深入分析的关键机会。

物联网也可大幅改善自动化测试作业。在自动化测试工作流程中,利用系统管理、资料管理、呈现与分析等物联网功能,再加上应用强化项目,可为测试工程师提供更有用的工具,以克服物联网的挑战。

对物联网与工业物联网而言,受管理的连线装置是根本所在;但是许多测试系统即使比以往更为分散,却未连线或受到妥善管理。一般而言,测试工程师若想追踪在特定硬体上执行的软体,或甚至只是想了解系统的大致情况,都相当不容易,更不用说要追踪效能、使用率与状态了。在今天,大多数现代测试系统皆以电脑或PXI为基础,并可直接连线至企业,如此即可享有管理软硬体元件、追踪使用与执行预知维护等额外功能,进而让测试投资发挥最高价值。

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