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Mentor推出Tessent Safety生態系統 滿足自駕車IC測試要求
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2020年01月20日 星期一

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西門子旗下業務Mentor近期宣佈,推出新的Tessent軟體安全生態系統─這是Mentor透過合作夥伴結盟,所提供的最佳汽車IC測試解決方案的完備產品組合。該計劃可協助IC設計團隊滿足全球汽車產業日益嚴格的功能安全要求。

相較於業界其它以封閉、單一來源模型為基礎的計畫,Tessent Safety生態系統提供了強大的替代方案。Mentor的開放式生態系統做法可確保IC測試的功能安全,使晶片製造商可以把Mentor的IC測試技術與其他最佳的解決方案結合在一起,以實現更完整、更高效能的最終解決方案。

西門子旗下業務Mentor Tessent產品副總裁暨總經理Brady Benware表示:「對於要縮短故障偵測和啟用晶片上安全機制之間的時間來說,快速的系統內IC測試效能至關重要。為加速IC測試效能,汽車IC設計人員日益需要把包括可測試性設計 (DFT) 和非DFT技術等所有的晶片上安全機制緊密結合 ─ 而此作法正是Mentor全新Tessent Safety生態系統的基礎。」

透過與Mentor領先合作夥伴的深度合作,Tessent Safety生態系統正快速擴展,其中包括:

.Mentor內建自我測試(BIST)技術,包括具備觀測掃描技術(Observation Scan Technology)的新型Tessent LBIST(LBIST-OST)解決方案,這是專為大幅縮短汽車IC中數位邏輯元件的系統內監視運行時間所設計的。新的Tessent LBIST-OST解決方案可協助客戶滿足嚴格的汽車功能安全要求,與傳統的邏輯BIST技術相比,系統內測試時間最多可縮短10倍。

.具有全面自動化流程的TessentMemoryBIST,可在RTL或閘級提供設計規則檢查、測試計劃、整合和驗證功能。由於Tessent MemoryBIST採用階層式(hierarchical)架構,使BIST和自我修復功能可增加到各個核心以及頂層。

.提供自動化和晶片上IP結合的TessentMissionMode產品,可在車輛功能運作期間的任何時間點對整個汽車電子系統中的半導體晶片進行測試和診斷。

.用於類比、混合訊號(AMS)和非掃描數位電路的TessentDefectSim電晶體級缺陷模擬器。Tessent DefectSim可測量缺陷覆蓋率和公差,是大量和高可靠性IC的理想選擇。

.Mentor參與了Arm功能安全合作夥伴計劃(AFSPP)。MentorTessent Safety生態系統採用 Arm Safety Ready IP功能,例如Cortex -R52處理器,可把即時執行與任何Arm處理器中最高程度的整合式功能安全以及先進的hypervisor技術結合在一起,以簡化軟體整合,並可提供堅固的分隔功能,保護攸關安全性的程式碼。

.Mentor的汽車級自動測試型樣產生(ATPG)技術,可偵測傳統測試型樣和故障模型經常遺漏的電晶體和互連級缺陷。

.此生態系統亦與Mentor的Austemper SafetyScope和KaleidoScope產品緊密連結,它們增加了先進的安全分析、自動校正和故障模擬技術,可解決隨機的硬體故障。Austemper技術會分析設計者的RTL中的錯誤和弱點,並具備智慧故障注入功能,有助於安全機制遭遇覆蓋的故障時,能以預期方式做出反應。透過平行化和分散式操作方法,專有的加速演算法可用來實現比標準閘級故障注入技術高好幾個數量級的加速。

瑞薩電子是Mentor Tessent Safety生態系統中關鍵技術的早期採用者,該公司在設計其最新的汽車處理器時評估了Mentor的新Tessent LBIST-OST解決方案。

「利用新Tessent LBIST-OST解決方案中的Observation Scan技術,我們能把系統內Logic BIST的測試時間縮短5倍,因此實現了更快的覆蓋率擴展,」瑞薩電子公司IoT和基礎建設業務處共享研發EDA部數位設計技術組總監Hideyuki Okabe表示,「這使我們能在把Logic BIST作為安全機制時縮短容錯時間間隔(FTTI),並在偵測汽車產品中的新缺陷時改善安全回應。我們將持續在我們的汽車產品中採用這項技術。」

Tessent Safety生態系統中的Mentor Tessent產品是Mentor Safe計劃的一部分,該計劃是最廣泛、最全面的ISO 26262認證計劃之一。

關鍵字: 自駕車  IC測試  Mentor 
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