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太克推出S530參數測試系統 加速半導體晶片生產
 

【CTIMES/SmartAuto 王岫晨 報導】   2021年09月27日 星期一

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Tektronix 發布了適用於 Keithley S530 系列參數測試系統的 KTE V7.1 軟體,在全球市場最需要的時機協助加速半導體晶片的製造流程。

Tektronix推出納入KTE V7.1軟體的S530參數測試系統,以加速半導體晶片生產。
Tektronix推出納入KTE V7.1軟體的S530參數測試系統,以加速半導體晶片生產。

KTE V7.1 版本首次提供的新選項包括全新的平行測試功能和獨特的高壓電容測試選項,適用於新興電源和寬能隙應用。與 KTE V5.8 相較,KTE V7.1 將測試時間縮短了 10% 以上,這意味著工程師可以減少停機時間並更快速地製造晶片。

5G 的出現和物聯網 (IoT) 的成長推動了全球對半導體的需求。如欲解決全球晶片短缺的現象,不僅需要提升現有的製造量,還需要能更快速地測試正在開發的新晶片。Tektronix 所發布的新型測試系統可以顯著減少測試時間,有助於加快製造速度,進而加快向市場交付新晶片。

Tektronix 系統與軟體部總經理 Peter Griffiths 表示:「現今新興的類比、寬能隙 (SiC 和 GaN) 和功率半導體技術都需要進行參數測試,以有效提高量測效能、處理廣泛的產品組合,並顯著地降低成本。我們的客戶,包括世界上最大的晶片製造商,將利用 KTE V7.1 所帶來的增強功能,讓工程師能夠以前所未有的速度繼續設計創新,以滿足不斷變化的市場需求。」

KTE V7.1 是以 KTE 7.0 作為基礎,對 S530 系統進行功能和輸送量的改進版本。新的測試頭設計可靈活地使用不同的探棒卡。升級後的軟體和硬體可提供單通測試和高輸送量。在服務方面,最近發布的系統參考單元 (SRU) 將校驗時間縮短到低於 8 小時,即意味著這些程序可以在一個常規工作班次中完成。客戶可以直接購買 SRU,也可以透過年度 SSO 服務計劃購買。

平行測試能力進一步提高生產力並降低測試成本

KTE V7.1 版本首次提供了適用的選項,使得 S530 現在具有強大的平行測試選項,可進一步提高生產力並降低測試成本,預計改進範圍為 30% (取決於測試和結構)。Keithley 的平行測試軟體建立在 S530 獨特的硬體架構 (支援多達 8 個高解析度 SMU 透過系統中的任何完整 Kelvin 連接埠/通道連接至任何測試針腳) 之上,可最佳化所有系統資源的效率,充分地提升測試輸送量。

適用於新興電源和寬能隙應用的獨特高壓電容測試功能

現今的工程師需要測試高壓裝置。對具有更快切換速度和更高效切換的晶片的需求不斷成長。更高的效率不僅可以減少用電量和發熱量,也對我們的環境更加友善。為了在更高的操作電壓下測試這些寬能隙裝置,工程師們正在從研發實驗室轉向製造過程。KTE V7.1 版本中所提供的高壓電容電壓 (HVCV) 特殊選項是與業界唯一單通道測試解決方案相結合的獨特產品,可以量測 200 到 1000 V 之間的電壓,提供測試高達 1100 V 直流偏壓電容的能力。這項適合生產使用的功能可以精確量測 Cdg、Cgs 和 Cds,以支援電源裝置輸入和輸出暫態效能的特性分析和測試作業。

使用單一探針在任何針腳上測試高達 1100 V 的電壓

除了提供和量測高達 1100 V 的電壓外,S530-HV 系統中還可以配置多達兩個 2470 SMU,且 S530-HV 內部的高壓切換矩陣讓使用者能隨時在任何測試針腳上執行這些量測。這項功能展現了最大的靈活性,不僅能滿足各種測試裝置和結構的針腳輸出要求,同時還消除了與雙通道測試或專用針腳方法相關的輸送量延遲,並有效降低成本。

關鍵字: IOT  物聯網  太克科技 
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