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愛德萬測試推出高產能記憶體測試機 整合預燒及記憶體測試
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2020年04月01日 星期三

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半導體測試設備供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation)發表最新多功能、高產能H5620記憶體測試機,能針對DRAM和LPDDR(低功耗雙存取同步動態隨機存取記憶體)裝置進行預燒及記憶體單元測試。

5G技術時代來臨,全球DRAM位元消耗預估將在2023年近乎翻倍,而此波需求成長背後的主要推手,正是持續成長的資料處理和行動通訊市場,不僅資料中心要求更多記憶體,智慧型手機解析度升級、新增摺疊功能和多鏡頭設計等也是原因。隨著記憶體IC平均售價持續縮水,半導體製造廠不可免的需要另闢蹊徑,縮減測試成本、擴大產量。

效能優異的愛德萬測試最新測試系統,能夠滿足這樣的需求。H5620在生產環境中,能以100-MHz頻率和高達200Mbps的資料傳輸率,平行測試超過1.8萬個元件。此外,H5620能因應工廠自動化需求,還有具備個別熱控制穩定度的雙溫箱結構,支援從-10°C到150°C大溫度範圍測試。

不僅如此,新系統結合原有記憶體單元測試與記憶體生產設備的預燒測試流程,不僅有助客戶降低資本支出,也能節省工廠空間。

愛德萬測試記憶體自動化測試設備事業群副總Takeo Miura表示:「這款測試機兼顧優異生產力與低廉測試成本,為檢驗現今最新DRAM元件的測試標準樹立了新標竿。」

H5620使用具備多元工具組合的FutureSuite?作業系統。有了這套軟體,測試機很容易能與愛德萬測試原本的記憶體測試系統相容。另外,愛德萬測試全球支援網也能立即提供客戶在程式編碼、除錯、關聯性分析和維修等方面的協助。

最新H5620測試機台已開始出貨給客戶,H5620ES工程模型也將於2020年第二季準備就緒。

關鍵字: 愛德萬測試 
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