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IC测试当务之急 高整合ATE完整测试免烦恼!
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【课程简介】:
     自动测试设备(ATE)是指用於检测电子元件功能之完整性的相关装置仪器设备。这些测试装置透过讯号的产生与撷取,并捕捉元件的回应来检测元件的品质与特性是否良好。在半导体元件的生产过程中,ATE测试通常为IC制造最後的一道关键流程,用於确保晶片的品质良好。
     对於需要高性能、高性价比自动测试解决方案的IC测试应用,ADI提供更高度整合的引脚电子元件(PE)、元件电源(DPS)和叁数测量单元(PMU)等。这些特定针对ATE应用的产品以及ADI标准方案的各种组合(包括MEMS开关、高性能转换器和RF收发器),能够在负载板中提供满足最新测试要求的各种自动测试解决方案。
     
●活动名称:
     IC测试当务之急 高整合ATE完整测试免烦恼!

     
●活动时间:
     2020年06月30日(二)上午09:58~11:00(含会後30分钟QA)

     
●课程重点:
     ADI针对ATE自动测试设备元件优势探讨
     ●ATE系统市场需求。
     ●如何打造高整合度ATE系统。
     ●DPS和PMU方案介绍。
     

     
●主讲人:高富华
     ●高富华是安驰科技 ADI 产品线的应用工程师,2005加入安驰科技。
     ●负责类比元件、放大器、资料转换器及MEMS传感器的应用。
     ●在 ADC/DAC 信号攫取与控制有丰富的经验。
     ●近年来专注於「基於MEMS 技术的新一代感测器与诊断预测」。

     
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