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霍尔效应测量基础
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【课程简介】:
     这个研讨会是设计为介绍电容电压测试这个主题,主要为其与半导体组件及材料特性的关联。电容电压测试普遍被使用来决定半导体参数,如掺杂浓度分布、接口能阶密度、起始电压、氧化物电荷、和载子生命期。
     这次研讨会将帮助你改善 ,诊断和确认C-V量测系统. 并讨论如何得到良好C-V量测数据.
     探讨的主题包括系统建立和另外谈到其他C-V应用,如高压CV及准静态CV.
     此次研讨会参与者 , 将会学习及了解如下 :
     Connecting a C-V instrument to a probe station properly 如何适当地连接 C-V仪器至探针系统
     本次研讨会将以霍尔效应的测量为主题,介绍它们与半导体材料和组件特征分析的关系。霍尔效应测量系统通常用于测量半导体参数,例如载子迁移率和载子浓度、霍尔系数和导电率以及导电型。
     参加本次研讨会可以了解到:
     什么是霍尔效应测量?
     哪些人员会用到霍尔效应测量?
     推动霍尔效应测量需求的行业趋势是什么?
     在选择霍尔效应测量所需的设备时应注意哪些关键问题?

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【課程費用】: 此为免费课程

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