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愛德萬測試XPS256電源供應卡獲半導體製造商採用投入量產測試
 

【CTIMES/SmartAuto 編輯部 報導】   2021年01月13日 星期三

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藉由通用DPS引腳可滿足關鍵資料處理應用時所需的百萬兆級電源需求。

愛德萬測試XPS256電源供應卡能提供革命性探針保護,並針對整體測試流程的電流與電壓進行零負荷背景分析。(source:Advantest)
愛德萬測試XPS256電源供應卡能提供革命性探針保護,並針對整體測試流程的電流與電壓進行零負荷背景分析。(source:Advantest)

(日本東京訊)半導體測試設備供應商愛德萬測試(Advantest)於今(1/13)宣布,旗下搭配V93000 EXA Scale系統單晶片(SoC)測試系統而開發之DC Scale XPS256 (DPS) 電源供應卡,快速獲得通訊處理器大廠採用,投入量產測試。XPS256創業界之先提供通用DPS引腳功能,能針對各式各樣的資料處理應用提供高精確度、高效能及快速動態回應的解決方案。

行動/寬頻通訊、高效能運算(HPC)和人工智慧(AI)等關鍵市場的蓬勃發展,推動了產業對於海量資料的需求,而XPS256能夠滿足業界對於相關測試效能的迫切需求而設計,並借由愛德萬測試Xtreme Link技術,使系統具備最佳化的彈性與擴充性。

XPS256能滿足現今各式廣泛的電流需求,提供不受限的合夥(ganging)能力,小至數豪安培、大至數千安培,效能都不會受到任何影響。這款結合三種儀器的單一電源供應卡,藉由愛德萬測試Xtreme Regulation技術支援,其DPS引腳能提供同級最佳彈性、準確度 (+/- 150μV) 與動態回應表現,同時具備完整四象限電壓電流 (VI) 功能和極小的過衝/下衝量。

不僅如此,XPS256電源供應卡還能提供革命性探針保護,並針對整體測試流程的電流與電壓進行零負荷背景分析 (background profiling);提供細微式電源供應以確保針與針之間的電流平衡;還具備線上接觸電阻的監控以便適時反映清針與預防性維修作業所需。XPS256的超高速硬件箝制 (hardware clamp) 設計也能保護DUT、探針卡和測試座免於受到熱失控影響。

愛德萬測試SoC資深副總Richard Junger表示:「XPS256搭配V93000 EXA Scale SoC測試機,為邁入百萬兆級運算領域的客戶獻上理想解決方案,提供超高全晶圓測試良率、極快速測試時間、以及可靠且一致的測試結果。」

愛德萬測試已向多家客戶出貨上百張 DC Scale XPS256 DPS卡。

關鍵字: 電源供應卡  半導體測試  愛德萬 
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